現在位置：首頁>光學儀器>電子顯微鏡>
原子力顯微鏡（AFM）
原子力顯微鏡 懸臂反射原子力顯微鏡 探針原子力顯微鏡
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:15
品 牌：型 號：HG13- NanoFirst-2000
狀 態：正常點擊量：2865
400-006-7520
聯系我時，請說明是在上海非利加實業有限公司上看到的，謝謝！
聯 系 人：
上海非利加實業有限公司
電 話：
400-006-7520
傳 真：
400-006-7520
配送方式：
上海自提或三方快遞
聯系我時請說在上海非利加實業有限公司上看到的,謝謝！
原子力顯微鏡 懸臂反射原子力顯微鏡 探針原子力顯微鏡
型號：HG13- NanoFirst-2000
產品介紹：
原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是***種以物理學原理為基礎，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析
儀器。***般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發出的激光束經懸臂反射后發生位移。檢測器接受反射光，*后接受信號經過計算機系統采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
產品特點：計算機全數字化控制，操作簡捷直觀。
步進馬達自動進行針尖－－樣品逼近，保證實驗圓滿成功。
深度陡度測量，三維顯示。
納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統計。
Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區域．
標準RS232串行接口,無需任何計算機卡
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達40000點/秒
可選配納米刻蝕功能模塊。
技術指標: AFM探頭
樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。
XY掃描范圍：標準6X6微米
0.25nm
0.03nm(云母定標)
XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米
掃描器、針尖座智能識別
44-283X連續變倍彩色CCD顯微觀察系統(選配)
AFM電化學針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購
滬公網安備31011502016460號
